prEN IEC 63616:2025
Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies balanced-type circular disk resonator method
Draft Public enquiryProject stage codes
1. Prioritetinių darbo temų pažymėjimas ir ekspertų skyrimas
2. Viešoji apklausa
From 2025-03-08
till 2025-05-07
Organisation
CENELEC Europos elektrotechnikos standartizacijos komitetasTechnical Committee
TK 1 ElectronicsForeignTC'S
CLC/SR 46FNumber of comments
0Comment start date
2025-03-08