GPDR
Privatumo politika

Būtini slapukai

Būtini slapukai įgalina pagrindines tinklapio funkcijas.Svetainė negali tinkamai veikti be šių slapukų, juos galima išjungti tik pakeitus naršyklės nuostatas.

Statistikos slapukai

Analitiniai slapukai padeda mums tobulinti mūsų tinklalapį, renkant ir pateikiant informaciją apie jo naudojimą.

El. pašto prenumerata

projektai-lsd Lietuvos akreditacijos ir standartizacijos agentūra
Standartų projektų portalas
Registruotis

prEN ISO 23131-3

Elipsometrija. 3 dalis. Skaidraus vieno sluoksnio modelis (ISO 23131-3:2026)

Standarto projektas Viešoji apklausa
Komentavimo iki data 2027-01-02
Eksportuoti komentarus Skaityti, komentuoti projektą

Projekto etapai

1. Decision on WI Proposal
2. Projektas
3. Viešoji apklausa
Nuo 2026-11-03 iki 2027-01-02
4. Closure of enquiry
5. Submission to Formal Vote

Organizacija

CEN Europos standartizacijos komitetas

ICS

17.020 - Metrologija ir matavimai. Bendrieji dalykai

Užsienio technikos komitetas

CEN/TC 262

Komentarų skaičius

0

Komentavimo pradžia

2026-11-03

Taikymo sritis

This document uses ellipsometric measurements and their analysis to specify the method for the determination of the layer thickness d of a transparent layer and the optical (refractive index n) or dielectric (real part ε1) constants/functions based on the transparent single layer model within a spectral region, for which k = 0 applies.