GPDR
Privatumo politika
projektai-lsd Lietuvos akreditacijos ir standartizacijos agentūra
Standartų projektų portalas

Projekto etapai

1. Decision on WI Proposal
2. Projektas
3. Viešoji apklausa
Nuo 2026-10-18 iki 2026-12-17
4. Closure of enquiry
5. Submission to Formal Vote

Organizacija

CEN Europos standartizacijos komitetas

ICS

17.040.20 - Paviršių savybės

Užsienio technikos komitetas

CEN/TC 290

Komentarų skaičius

0

Komentavimo pradžia

2026-10-18

Taikymo sritis

This document describes the influence quantities and instrument characteristics of confocal microscopy systems for areal measurement of surface topography. Because surface profiles can be extracted from surface topography images, the methods described in this document can be applied to profiling measurements as well.

Ryšiai

Pakeis
LST EN ISO 25178-607:2019